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一种微波设备测试系统。提供了一种用于实现在研发和生产过程中能够对产品的功能、性能等进行全面测试,并满足信息化和自动化要求的微波设备测试系统。包括控制计算机、电源和以太网HUB,还包括数字控制模块、激励开关、本振一、本振二和响应开关;所述控制计算机通过所述以太网HUB与所述数字控制模块运行显控程序,实现测试模式选择、测试控制参数下发、仪表控制、测试数据显示及录取功能;所述本振二在数字控制模块的控制下产生9GHz的射频信号进行幅度调制,并功分四路输出至被测件。本发明实现测试模式选择、测试控制参数下发
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112564824 A
(43)申请公布日 2021.03.26
(21)申请号 202110095393.9 H04B 17/29 (2015.01)
(22)申请日 2
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