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本发明提供了一种晶圆缺陷扫描系统及扫描方法和计算机存储介质,所述晶圆缺陷扫描方法包括:提供一待测晶圆,具有x颗待扫描的晶粒;提供一扫描机台,设置有所述扫描机台能够记录的缺陷数量的上限y个;以及,对所述待测晶圆上的晶粒进行第一次扫描,若扫描到的缺陷数量达到所述上限y个时,已扫描的所述晶粒的数量小于x颗,则对x颗所述晶粒重新执行第二次扫描;其中,在所述第二次扫描的过程中,每当扫描到的缺陷数量达到所述上限y个时,对扫描到的缺陷数量进行取样记录,直至已扫描的晶粒的数量达到x颗时,所有次的取样记录的数量之
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112614790 A
(43)申请公布日 2021.04.06
(21)申请号 202011483296.9
(22)申请日 2020.12.16
(71)申请人 上海华力微电子有限公司
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