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2023-06-03 发布于四川
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一种反熔丝单元可靠性测试方法.pdf

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本发明属于反熔丝FPGA产品测试领域，具体说是一种反熔丝单元可靠性测试方法，可以在PCM测试时实现反熔丝FPGA门阵列的查空测试，以及时发现反熔丝FPGA产品的可靠性问题。在未对反熔丝单元编程前，通过对PAD点施加电压，测量反熔丝单元输出的电流，实现反熔丝单元的可靠性测试，包括以下步骤：将一组反熔丝阵列作为测试样管，分别将反熔丝阵列中的平行布线和垂直布线并联，每一个交点构成一个反熔丝单元；分别将并联的平行布线和垂直布线引出，并连接至PAD窗口；通过探针对PAD窗口施加电压，使电压施加在每个反熔丝

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112614791 A (43)申请公布日 2021.04.06 (21)申请号 202011484729.2 (22)申请日 2020.12.16 (71)申请人中国电子科技集团公司第四十七研

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