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2023-06-04 发布于四川
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一种集成电路扫描测试向量生成方法.pdf

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本发明公开了一种集成电路扫描测试向量生成方法，包括，读入网表文件，生成故障列表，随机测试向量生成模块启动，随机生成测试向量并删除所覆盖到的故障，生成新故障列表；启动基于伪分布式系统的MapReduce框架，分别在映射阶段和化简阶段对所述新故障列表执行自动测试向量生成和故障仿真操作；进行所述故障仿真时，消除冗余测试向量和精准控制覆盖率模块启动，将所述冗余测试向量舍去；若使能所述精准控制覆盖率模块，则判断所述测试向量的生成过程是否满足设定阈值，若满足，则自动停止。达到大幅减少测试成本的目的，通过实验

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112666451 B (45)授权公告日 2021.06.29 (21)申请号 202110273673.4 CN 107301243 A,2017.10.27 (22)

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