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半导体装置.pdfVIP

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本公开提供一种半导体装置。其包括鳍片、栅极堆叠、隔离区、外延源极/漏极区以及源极/漏极接触件,鳍片从半导体基板延伸;栅极堆叠位于鳍片的上方,并沿着鳍片的侧壁;隔离区围绕栅极堆叠;外延源极/漏极区位于鳍片之中,并邻近栅极堆叠;源极/漏极接触件,延伸穿过隔离区,源极/漏极接触件包括第一硅化物区、第二硅化物区以及导电材料。第一硅化物区位于外延源极/漏极区之中,第一硅化物区包括NiSi2;第二硅化物区位于第一硅化区之上,第二硅化区包括TiSix;导电材料位于第二硅化物区之上。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112687688 A (43)申请公布日 2021.04.20 (21)申请号 202011111900.5 (22)申请日 2020.10.16 (30)优先权数据 16/656,83

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