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本发明涉及电子元器件的封装技术,公开了一种互连微焊点、芯片及芯片的焊接方法,本发明的互连微焊点,包括第一铜层、第一阻挡层、第一锡层、第二锡层、第二阻挡层以及第二铜层,所述第一阻挡层设于所述第一铜层上,所述第一锡层设于所述第一阻挡层上,所述第二阻挡层设于所述第二铜层上,所述第二锡层设于所述第二阻挡层上,在焊接状态下,所述第一锡层与所述第二锡层键合于一体。这样,可以通过第一阻挡层和第二阻挡层抑制互连微焊点之间的孔洞,能防止由于孔洞扩散成裂纹影响芯片结构。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112670267 A
(43)申请公布日 2021.04.16
(21)申请号 202011496479.4
(22)申请日 2020.12.17
(71)申请人 中南大学
地址 41
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