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2023-06-04 发布于四川
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一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备.pdf

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本发明的实施例公开了一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备，涉及芯片测试技术领域，避免了目前主系统故障后，芯片测试数据相关业务(查询、存储等)中断的问题。所述芯片测试数据跟踪查询系统，包括：两个双活的服务器集群，每个服务器集群包括：监听服务器，用于将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给解析服务器；解析服务器，用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证，并将验证通过后测试数据发送给数据库服务器进行存储；查询服务器，用于根据芯片测试站点发来的查询请求，从数据库服务器中检索与查询请

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112685237 A (43)申请公布日 2021.04.20 (21)申请号 202011644099.0 (22)申请日 2020.12.31 (71)申请人海光信息技术股份有限公司

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