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芯片子系统验证方法和装置.pdfVIP

芯片子系统验证方法和装置.pdf

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    本发明提供了一种芯片子系统验证方法和装置。本发明的方法包括以下步骤：构建基于VIP测试的测试序列、虚拟序列器和激励主机，所述虚拟序列器用于接收所述测试序列且耦接所述激励主机，所述激励主机适于向芯片的待验证子系统输入激励；构建基于C测试的仿真平台，所述仿真平台适于向所述子系统提供配置信息；构建基于VIP测试的响应从机，用于替代存储器及存储控制器；以及使用所述虚拟序列器、激励主机及响应从机形成验证环境，并与所述测试序列和仿真平台组成验证平台，对所述子系统进行验证。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112685240 A (43)申请公布日 2021.04.20 (21)申请号 202011610765.9 (22)申请日 2020.12.30 (71)申请人 瓴盛

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