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本发明提供一种基于SVR模型的开关柜内部异常发热检测方法、装置及存储介质,其中方法包括获取开关柜隔离开关温升试验数据;选取开关柜外壳的监测点的温度值以及环境温度值作为自变量,隔离开关触头温度值作为因变量;利用遗传算法对惩罚参数C和核函数参数g进行参数寻优,得到训练好的SVR模型;利用SVR模型进行隔离开关触头温度回归监测;比较不同核函数下的回归监测结果,确定最佳方案,建立隔离开关触头温度回归监测模型;利用隔离开关触头温度回归监测模型测试开关触头的温度。本发明可以进行不同接触电阻、不同负荷电流下的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112665755 A
(43)申请公布日 2021.04.16
(21)申请号 202011470729.7 G06F 17/15 (2006.01)
(22)申请日 2
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