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一种通信IC芯片焊接缺陷与密集型虚焊检测技术.pdf

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本发明涉及芯片缺陷智能检测的技术领域,特别是涉及一种通信IC芯片焊接缺陷与密集型虚焊检测技术,对于引脚起翘检测,通过对拍摄的芯片图像进行阈值分割与二值化等一系列处理,定位到引脚焊接点,利用初步判断法、拟合直线法与分区域法进行引脚起翘的检测,对于密集型虚焊的检测,采集大量的图像数据,然后进行整理、标注、清洗、数据扩充等预处理步骤,将原始的图像数据转换为计算机可识别的数据,在此基础上,构造深层卷积神经网络,经过多轮训练获取图像数据分类器,用以识别芯片中存在的密集型虚焊问题;包括以下步骤:S1、图像采

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112730460 A (43)申请公布日 2021.04.30 (21)申请号 202011420655.6 (22)申请日 2020.12.08 (71)申请人 北京航天云路有限公司

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