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本发明提出一种宽光谱大动态范围光学系统及测试标定的方法,宽光谱光源的出射光依次经过衰减片、滤光片,从靶标透过后,先经平面反射镜反射到主球面反射镜上,再由主球面反射镜的反射到达次球面反射镜上,之后又经所述次球面反射镜的反射到达所述主球面反射镜,最终经所述主球面反射镜的反射后到达成像焦面上。本发明采用离轴三反光学系统,可一次完成成像芯片的分辨率、光照度响应和宽光谱响应情况的测试标定,通过靶标上的分辨率板,实现对成像芯片的分辨率进行测试;通过多个衰减片的组合、通过不同规格滤光片的转换,完成成像芯片光照
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112748558 A
(43)申请公布日 2021.05.04
(21)申请号 202011618009.0
(22)申请日 2020.12.31
(71)申请人 中国科学院西安光学精密机械研究
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