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用于测试被测器件的装置和方法.pdfVIP

用于测试被测器件的装置和方法.pdf

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    本发明涉及用于校准自动化测试设备(ATE)以对被测器件(DUT)进行自动化测试的设备和方法。根据本发明的一个方面，装置(10)包括：信号提供器，其被配置为生成信号并将信号施加到提供反射的信号路径(4)；并且包括电路装置，其被配置为确定在信号路径(4)的信号提供器侧产生的结果信号的信号特征值；其中，装置(10)被配置为改变所生成的信号的周期；并且其中，装置(10)被配置为根据针对所生成的信号的不同周期而确定的信号特征值，来获得与信号路径(4)的电长度(TD)有关的信息。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112789507 A (43)申请公布日 2021.05.11 (21)申请号 201880098392.6 (51)Int.Cl.

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