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本发明公开了一种板载芯片测试辅助装置,其包括有芯片治具和外走线板,芯片治具上开设有可罩于板载芯片顶部的限位固定口,限位固定口的内侧壁穿设有多个金属触点,金属触点与板载芯片的引脚一一对应,外走线板的第一端位于芯片治具内,且多个金属触点分别电性连接于外走线板的第一端,外走线板的第二端向芯片治具之外延伸,且外走线板的第二端电性连接有多针插接件,当芯片治具的限位固定口罩设于板载芯片的顶部时,多个金属触点分别抵接于板载芯片的多个引脚,借由金属触点、外走线板和多针插接件将板载芯片与外部测试设备电性连接。本发
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112782553 A
(43)申请公布日
2021.05.11
(21)申请号 20191
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