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一种干扰下基于斜投影的扩展目标自适应检测方法与系统.pdfVIP

一种干扰下基于斜投影的扩展目标自适应检测方法与系统.pdf

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    本发明涉及一种干扰下基于斜投影的扩展目标自适应检测方法与系统。首先构造信号矩阵、干扰矩阵、待检测数据矩阵和训练样本矩阵，然后根据训练样本构造采样协方差矩阵及其平方根矩阵的逆矩阵，接着根据平方根矩阵对信号矩阵、干扰矩阵和待检测数据矩阵进行白化处理，再根据白化后的信号矩阵和白化后的干扰矩阵构造斜投影矩阵，接着根据斜投影矩阵和白化后的待检测数据矩阵构造检测统计量，进而根据系统设定的虚警概率及检测统计量确定检测门限；最后比较所述检测统计量与所述检测门限的大小，并判决目标是否存在。本发明设计的检测器能够彻

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112799042 B (45)授权公告日 2021.08.06 (21)申请号 202110376465.7 G01S 7/41 (2006.01) (22)申请日 2

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