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2023-06-07 发布于四川
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红外探测器的性能测试方法.pdf

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本发明提供了一种红外探测器的性能测试方法，其包括步骤S1‑S8。由于本申请针对的测试对象是整个已封装红外探测器，从而在选择、转移和更换测试对象的过程中不会对红外芯片造成损伤，而且在对整个已封装红外探测器进行性能测试时，其无需采用真空探测台将待测试的已封装红外探测器保持在真空状态下进行测试，由此不仅保证了测试精度，还极大地降低了设备成本。同时，由于本申请还通过视觉配合和机械手来选择、转移和更换待测试的已封装红外探测器，由此不仅实现了自动化测试，还极大地降低了人工成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112798926 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 202011566468.9 (22)申请日 2020.12.25 (71)申请人东莞先导先进科技有限公司

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