芯片检测方法、装置和存储介质.pdfVIP

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本申请提供一种芯片检测方法、装置和存储介质,通过在芯片检测时间获取逻辑内建自测试模块产生的扫描数据,将此扫描数据输入待测逻辑模块进行处理,获取待测逻辑模块输出的检测结果,与获取的同一扫描数据对应的标准检测结果进行比较,得到比较结果,并根据此比较结果判断芯片的工作状态正常与否,实现了对芯片状态的检测,且检测结果更为全面、准确。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112817807 A (43)申请公布日 2021.05.18 (21)申请号 202110171836.8 (22)申请日 2021.02.08 (66)本国优先权数据 2020101

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