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基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质.pdf

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    本发明公开了一种基于光弹性的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，所述方法包括：采用初始偏振光入射待检测材料，并检测初始偏振光经过待检测材料双折射产生的椭圆偏振光的偏振信息，基于偏振信息确定光弹性应力值，并根据光弹性应力值生成应力分布图像，通过深度学习网络，对应力分布图像进行特征提取识别，得到缺陷特征信息，采用本发明可以提高缺陷检测的灵敏度和准确率。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112802003 B (45)授权公告日 2022.05.06 (21)申请号 202110170546.1 G06V 10/80 (2022.01)

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