一种利用插值算法的天线近场测量方法及装置.pdfVIP

一种利用插值算法的天线近场测量方法及装置.pdf

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本申请公开了一种利用插值算法的天线近场测量方法。步骤S10:采集并记录待测天线近场扫描面上的电场幅度、相位信息;所述近场扫描面为任意曲面形状,且需同时满足以下三个条件。步骤S20:通过三次样条插值对待测天线近场扫描面上的电场幅度进行插值。步骤S30:通过双线性插值对待测天线近场扫描面上的电场相位进行插值。步骤S40:基于插值得到的待测天线近场电场幅度、相位值,根据惠更斯等效原理计算待测天线的远场电场。步骤S50:基于计算出的待测天线的远场电场,计算待测天线的远场归一化方向图。上述方法中的近场扫描

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112798876 B (45)授权公告日 2021.06.22 (21)申请号 202110299350.2 CN 106486769 A,2017.03.08 (22)

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