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一种时序验证方法、验证装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

一种时序验证方法、验证装置、电子设备及存储介质.pdf

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    本发明实施例提供了一种时序验证方法、验证装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：针对并发线程中的各个线程，确定该线程中的各原子操作以及各原子操作的执行顺序；对并发线程的所有原子操作进行排序，得到多个不同的原子操作顺序，其中，任一个所述原子操作顺序是按照所述并发线程中各线程的原子操作的执行顺序确定的；获取并发线程在按照各原子操作顺序执行外部执行参数后得到的执行结果；基于执行结果对并发线程的时序进行验证。本发明实施例相比于现有的TLA+验证方法更加简单，有效降低了时序验证的难度。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112835686 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 20191

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