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一种便于实时监测的老化测试系统、方法和集成电路芯片.pdfVIP

一种便于实时监测的老化测试系统、方法和集成电路芯片.pdf

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    本申请公开了一种便于实时监测老化测试结果的集成电路芯片，包括定时器、控制器以及运行于所述控制器上的控制程序；所述集成电路芯片用于老化测试，其特征在于：所述控制器基于所述控制程序的运行而控制所述定时器输出用于表示老化测试项目的第一PWM信号，和与所述第一PWM信号同步的且用于表示测试数据的第二PWM信号；所述控制程序被定义为基于不同的老化测试项目输出具有不同频率的所述第一PWM信号。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112816850 B (45)授权公告日 2022.06.17 (21)申请号 202011587956.8 (56)对比文件

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