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本发明公开了一种日用陶瓷口沿高度差和外口径差的测量方法,包括如下步骤:首先将待测日用陶瓷放置到测量装置的箱体内,并通过测量装置的载物部件将待测日用陶瓷紧固;其次通过测量装置的相机和光源部件获取待测日用陶瓷的轮廓图像,再通过图像处理工序获得待测日用陶瓷最左上点和最右上点的像素坐标,再通过坐标转换工序将像素坐标转换为脉冲坐标;然后按照脉冲坐标通过测量装置的进给部件将测量装置的检测部件位移至指定位置,并对待测日用陶瓷的外口径和口沿高度的数据进行采集和处理;最后将测量结果传输至测量装置的控制器部件。本发
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112797909 B
(45)授权公告日 2022.06.03
(21)申请号 202110232321.4
(22)申请日 2021.03.03
(65)同一申请的已公布的文献号
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