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本发明公开本发明提供一种电场辐射敏感度改进测试方法和系统,解决现有方法和系统测试效率低和测试成本高的问题。所述方法,包含:根据受试设备的尺寸和测试距离计算E面测试范围和H面测试范围,根据发射天线波束宽度和测试距离计算E面步进和H面步进;选定测试初始位置,按照先沿E面再沿H面或者先沿H面再沿E面调节发射天线的位置,使得发射天线移动范围覆盖所述E面测试范围和H面测试范围,且每个测试位置都与所述受试设备的距离保持为所述测试距离;在所述每个测试位置,通过所述发射天线向所述受试设备辐射信号,测量受试设备处
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112798874 B
(45)授权公告日 2022.07.08
(21)申请号 202011537898.8 (56)对比文件
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