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本发明公开了一种X射线能谱联合测量谱仪,用于在同一方位上联合晶体衍射方法和滤片堆栈方法测量X射线能谱,包括前后依次共轴安装于屏蔽外壳内的辐射屏蔽模块、晶体衍射测谱模块和滤片堆栈测谱模块,以及用于对中的瞄准组件。本发明联合了晶体衍射和滤片衰减两种测谱方法,解决了现有技术无法同时实现高精度和大量程的技术难题,在单一视角内实现了高精度大量程的能谱测量,可用于诊断激光X射线源、X光管射线源等从keV至MeV的能谱数据。本发明具有测谱范围大,能谱分辨高,抗碎片打击,抗等离子体喷溅,占用空间立体角小,应用范
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112859146 B
(45)授权公告日 2022.06.28
(21)申请号 202110138009.9 CN 101405596 A,2009.04.08
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