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提供一种能够测量微小电流的半导体装置。一种包括运算放大器及二极管元件的半导体装置,电流被输入的第一端子与运算放大器的反相输入端子及二极管元件的输入端子电连接,电压被输出的第二端子与运算放大器的输出端子及二极管元件的输出端子电连接。作为二极管元件,使用在沟道形成区域中包括金属氧化物的二极管连接的晶体管。因为该晶体管的关态电流极低,所以可以在第一端子和第二端子之间流过微小电流。由此,通过从第二端子输出电压,可以根据该电压估计流过到第一端子的微小电流。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112888952 A
(43)申请公布日 2021.06.01
(21)申请号 201980067176.X (74)专利代理机构 上海专利商标事务所有限公
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