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自旋缺陷中心集合与微波谐振器之间的腔自旋相互作用的微波谐振器读出产生的保真度比光读出可能产生的保真度高几个数量级。在微波谐振器读出中,微波光子探测耦合到受待测量物理参数影响的自旋缺陷中心集合的微波谐振器。所述物理参数使所述自旋缺陷中心的谐振偏移,这又改变了所述微波谐振器的色散和/或吸收。所述微波光子探测这些色散和/或吸收变化,产生比类似的荧光测量的可视性更高、散粒噪声更低、灵敏度更好且信噪比更高的测量。另外,微波谐振器读出能够实现自旋缺陷中心集合的相干平均,并且与除金刚石中的氮空位之外的自旋系统
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112955768 A
(43)申请公布日 2021.06.11
(21)申请号 201980069959.1 C ·L ·帕努斯基 X ·张
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