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芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质.pdfVIP

芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质.pdf

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    本发明提供一种芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质。验证方法包括：基于UVM构建芯片验证平台；利用验证平台验证芯片的设计。其中，所述基于UVM构建芯片验证平台，包括：构建数据包；构建主机代理器，用于实现数据包的主机发送操作；构建从机代理器，用于实现数据包的从机接受操作。根据本发明的芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质，具有验证效率高、验证周期短、可以实现可重用测试的特点。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112926285 A (43)申请公布日 2021.06.08 (21)申请号 202110203134.3 (22)申请日 2021.02.23 (71)申请人 北京集创北方科技股份有限公司

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