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本发明公开了一种基于包裹相位高度的结构光编码方法,步骤包括:1)搭建结构光测量系统;2)调整工业相机和投影仪的位置,保存标定参数;3)生成待使用的随机序列;4)根据生成的序列合成内含有序列信息的四张相移投影光栅图像;5)将四张相移投影光栅图像输出至待测物体表面;采集经过待测物体表面调制变形后的四张条纹光栅图像;6)对四张条纹光栅图像进行解相,获得初始的包裹相位;7)对初始包裹相位进行调整,获得调整后的包裹相位和周期数;8)计算出绝对相位;本发明适用于多数传统相移轮廓测量术,极大的减少了投影所需的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112945088 A
(43)申请公布日 2021.06.11
(21)申请号 202011313398.6
(22)申请日 2020.11.21
(71)申请人 重庆大学
地址 40
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