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本发明公开了一种绝缘子污秽度的测试方法,包括以下步骤:S1、利用LIBS,用脉冲激光光束照射若干绝缘子样品表面的污秽,获得各绝缘子样品的等离子体特征光谱数据;S2、根据Na元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值盐密值的定标关系;S3、根据Al元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值灰密值的定标关系;S4、使用LIBS,用相同参数的脉冲激光光束照射待测绝缘子表面的污秽,获得待测绝缘子的等离子体特征光谱数据;S5、分别利用定标关系,确定待测绝缘子的等值盐密值和等值灰密值
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112945942 A
(43)申请公布日 2021.06.11
(21)申请号 202110143617.9
(22)申请日 2021.02.02
(71)申请人 国网
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