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本发明提出了一种基于电离层测高仪的扰动观测方法,涉及电离层扰动观测领域。一种基于电离层测高仪的扰动观测方法,包括如下步骤:端口初始化:监控系统时间并判断时间是否到达指定时长;生成数据文件:通过端口写入控制到DDS板和RCVR板,开始扫频;系统启动:启动DDS板产生频率信号、相位编码和双相调制,运行脉冲集,启动MCU、发射编码脉冲;定时采集:一定时间后,停止发射编码脉冲,采集140或170组回波信号,判断脉冲集是否运行完,当运行未完成时进入下一步骤,否则重新进行所述系统启动步骤。能够实现实时获取高
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112924963 A
(43)申请公布日 2021.06.08
(21)申请号 202110131839.9
(22)申请日 2021.01.30
(71)申请人 中南民族大学
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