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在各个示例中,提供了一种用于根据.JTAG和IEEE1500在现场部署的芯片上执行内建自测(BIST)的测试系统。硬件和软件选择性地连接到IEEE1500串行接口上,用于在芯片在部署中(例如在自动驾驶汽车中)使用时运行BIST。除了提供一种连接到串行接口上的机制之外,硬件和软件还可以减少与运行测试序列相关联的内存需求和运行时间,从而使BIST在部署中成为可能。此外,一些实施例包括被配置为在运行BIST之前存储时钟、电源和输入/输出的功能状态的组件,这允许在BIST之后恢复功能状态。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112955761 A
(43)申请公布日 2021.06.11
(21)申请号 201980072487.5 (74)专利代理机构 北京市磐华律师事务所
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