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一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置.pdfVIP

一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置.pdf

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    本申请提供了一种微区测量纳米材料光学增益系数的测量方法及测量系统装置，所述的测量方法包括：控制脉冲激光依次穿过凸透镜、小孔、柱面透镜和可调狭缝后形成条纹光斑，通过显微物镜使条纹光斑聚焦至待测纳米材料上；通过光学显微镜观察条纹光斑图像，并通过可调狭缝改变条纹光斑长度，分别测试不同长度的条纹光斑下的待测纳米材料的放大自发辐射光谱强度；根据放大自发辐射光谱强度与条纹光斑长度的曲线关系拟合得到待测纳米材料的光学增益系数。本申请可实现微区操作，可以获得更加精确的条纹光斑长度，条纹变化的步长更小，可获得更多

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112924392 A (43)申请公布日 2021.06.08 (21)申请号 202110164408.2 (22)申请日 2021.02.05 (71)申请人 国家纳米科学中心 地址

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