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光源定位装置和半导体光学量测装置.pdf

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该发明公开了一种用于半导体光学量测的光源定位装置和半导体光学量测装置,所述光源定位装置包括:外壳,所述外壳内限定出适于半导体光学量测的光源器件至少部分伸入的安装腔,所述外壳包括定位件和用于与所述半导体光学量测设备固定连接的固定件;定位杆,所述定位杆可移动地穿设在所述定位件上且所述定位杆的一端伸入所述安装腔内,所述定位杆伸入所述安装腔的一端设有底座,所述底座设有与所述光源器件安装定位的定位部,所述外壳安装在所述光学量测设备时所述光源器件安装到位且所述光源器件的定位标志位于定位位置处。所述光源定位装

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112945281 B (45)授权公告日 2022.06.03 (21)申请号 202110096345.1 审查员 刘颖婷 (22)申请日 2021.01.25

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