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2023-06-11 发布于四川
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用于电子元器件AiP测试的测压装置.pdf

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本申请涉及测压装置技术领域，特别是涉及一种用于电子元器件AiP测试的测压装置。该测压装置包括底板组件、暗箱组件、驱动组件、存放组件以及压头组件；暗箱组件及驱动组件安装于底板组件上，暗箱组件靠近底板组件的侧面上开设有检测孔，存放组件安装于底板组件上，且存放组件的至少一部分位于检测孔内，以存放待检测芯片，压头组件位于暗箱组件内，且压头组件的部分从检测孔伸出，并与驱动组件连接，且压头组件在驱动组件带动下，能够靠近存放组件运动，以对待检测芯片进行施压测试。本申请的优点在于：能够进行快速自动化测试、具有暗

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112986748 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110107196.4 (22)申请日 2021.01.27 (71)申请人杭州长川科技股份有限公司

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