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一种用于柔性薄膜性能测试的原位弯曲装置,包括上下镂空、左右设有固定方槽的基座,所述固定方槽下方设有凸起的刻度尺,基座和平动滑块设有同样尺寸的矩形槽,所述矩形槽上放置平动滑块和方柱,通过依次插入不同厚度的方柱给试样施加不同的步进位移,在试样移动过程中平动滑块和基座上的矩形槽可以固定试样,实现简支梁弯曲实验,所述方柱的不同厚度对应试样的不同大小的曲率弯曲半径和应变。本发明克服了传统的更换弯曲台而导致测试位置变动和损伤样品电极接触等问题,可以用于各种型号的低温真空探针台,在不同温度、磁场、光照等情况下
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113009256 A
(43)申请公布日 2021.06.22
(21)申请号 202110222452.4
(22)申请日 2021.02.24
(71)申请人 湖北大学
地址 43
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