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读写可靠性检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdfVIP

读写可靠性检测方法、装置、电子设备及可读存储介质.pdf

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    本申请提供一种读写可靠性检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，包括：根据同步动态随机存取内存SDRAM的数据总线宽度，确定第一伪随机计算器函数；确定地址总线的第一地址初始值以及数据总线的第一初始值；利用所述第一伪随机计算器函数从所述数据总线的第一初始值开始迭代计算N次，获得N个计算结果；利用所述N个计算结果以及所述数据总线的第一初始值组成的N+1个伪随机值以及第一地址初始值，确定所述SDRAM的读写可靠性。由于上述的实施方式中，是利用伪随机计数器函数计算出的计算结果来验证SDRAM的读写可靠性

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992252 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 20191

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