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本发明提供一种在半导体晶圆上电镀导电材质的方法,涉及半导体制造工艺技术领域,包括在晶圆基体上形成导电镀层;上述导电镀层包括表面的电镀银镀层,和电镀银镀层与晶圆基体之间的钛镍银镀层;上述镍钛银镀层采用真空蒸镀技术制备,电镀银镀层采用挂镀技术制备;上述镍钛银镀层的厚度为2.1‑3.5μm,电镀银镀层的厚度为25‑35μm。本发明提供的电镀导电材质的方法克服以往技术中镀层厚度不均匀的不足,能提升镀液分散能力,提高电镀银镀层的厚度均匀性和硬度,增强镀层防变色能力和耐磨耗性能,增益导电性和延长机械寿命,加
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112981482 B
(45)授权公告日 2022.05.13
(21)申请号 202110145839.4 C23C 14/24 (2006.01)
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