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扩展JTAG控制器和使用扩展JTAG控制器进行功能调试的方法.pdfVIP

扩展JTAG控制器和使用扩展JTAG控制器进行功能调试的方法.pdf

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    本发明公开了基于扩展联合测试行动组的控制器及使用该扩展联合测试行动组的控制器进行功能调试的方法。本发明的目的是降低功耗(动态和泄漏)，但同时提供测试和调试程序的相同功能，这将通过扩展联合测试行动组(JTAG)控制器解决，用于测试集成电路(IC)寄存器的触发器使用用于测试包括至少一个扫描链的IC上的扫描基础设施的设计，其中，外部调试器通过JTAG控制器连接到扫描基础结构的可测性设计，该JTAG控制器由调试控制器扩展，然而，从扫描链的输出到扫描链的输入多路复用器形成反馈回路，该输入多路复用器根据扩展

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112997089 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 201880096567.X (51)Int.Cl.

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