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本发明公开了一种检测基因芯片杂交结果的方法,包括:构造基因芯片检测仪;将完成杂交和荧光标记后的基因芯片的基片放置在封装式微通道板上;开启脉冲激光光源系统,发射出脉冲激光,使基因芯片的基片上带有荧光标记基团的探针上的荧光物质达到激发态;探针上荧光物质激发后释放的光子利用微通道板型时间相关单光子计数法转化为电信号并进行检测;统计不同时间和通道位置上的探针的累计信号数据,绘制出每个探针的荧光寿命曲线。检测基因芯片杂交结果的方法通过时间相关单光子计数法进行十万次以上的重复检测,实现了荧光寿命曲线的绘制,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 112986206 B
(45)授权公告日 2021.07.30
(21)申请号 202110550812.3 (51)Int.Cl.
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