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2023-06-11 发布于四川
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一种电路测试方法、系统、电子设备及介质.pdf

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本发明提供一种电路测试方法、系统、电子设备及介质，方法包括：获取电磁兼容测试失败的电路的关联信息，其中，所述关联信息至少包括以下之一：电气导通性状态、插接件和互连线状态、电路板布局布线状态、芯片状态；对所述电路的关联信息和电磁兼容进行测试，确定所述电路中异常的关联信息，完成电路测试。通过对关联信息的检测过程或者顺序进行优化，分层次确定电路中存在的异常问题，解决了传统方法中ESD问题定位不准确、整改效率低、整改对策无法量产等诸多问题，便于在电路整改时根据设备电路不同的电气导通性状态、插接件和互连线

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112964955 A (43)申请公布日 2021.06.15 (21)申请号 202110281501.1 (22)申请日 2021.03.16 (71)申请人云从科技集团股份有限公司

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