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2023-06-11 发布于四川
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一种芯片边缘检测方法及装置.pdf

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本发明公开了一种芯片边缘检测方法及装置，芯片包括至少一个存储区域，每个存储区域包括多个存储单元，包括：在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元写入预设数据后，读取芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元的数据作为读取数据；根据读取数据和预设数据，确定芯片边缘检测结果。本发明实施例提供的芯片边缘检测方法，不需要芯片原厂的边缘完整性检测电路的技术支持，无需额外设置相应的检测电路，能够简化芯片的检测过程，在芯片出厂前后均能够对芯片进行有效的检测与筛查，提高了半导体器件的成品的有效性能，保证了电子产

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992250 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110258511.3 (22)申请日 2021.03.09 (71)申请人江苏半湖智能科技有限公司

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