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基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置.pdfVIP

基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置.pdf

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    本发明公开了基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置，包括步骤：获取要检测变色缺陷的柔性IC基板源图像；对柔性IC基板源图像进行预处理；将分割之后得到的超像素图像输入能量函数判定柔性IC基板变色缺陷。本发明方法针对于要检测缺陷的柔性IC基板源图像，针对于预处理后提取ROI区域的图像，进行超像素图像的分割，以分割得到的超像素图像为基础，通过能量函数判定柔性IC基板变色缺陷，可以快速、准确以及全面的提取出柔性IC基板中的变色缺陷，避免由于变色缺陷位于边缘或者变色区域过大，导致变色缺陷误判的现象

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112991302 B (45)授权公告日 2023.04.07 (21)申请号 202110300079.X G06T 7/90 (2017.01)

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