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本发明为基板处理装置、基板处理方法及基板研磨方法,无论基板的直径的公差如何都提高基板的被研磨面的研磨的均匀性。基板处理装置包括:用于支承基板(WF)的工作台(100);用于保持研磨垫(222)的垫保持件(226),而该研磨垫用于对支承在工作台(100)上的基板(WF)进行研磨;用于使垫保持件摆动的摆动机构;用于支承通过摆动机构而向工作台(100)的外侧进行摆动的研磨垫的支承部件(300A、300B);用于测量基板(WF)的直径的测量器(400);以及根据由测量器(400)测量出的基板(WF)的直
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113001394 A
(43)申请公布日 2021.06.22
(21)申请号 202011504421.X B24B 27/00 (2006.01)
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