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半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质.pdf

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    本申请实施例提供一种半导体测试监控方法、装置、设备及存储介质，所述半导体测试监控方法包括：获取测试机的状态数据和被测物品信息；在预设的数据库中，读取对应于所述被测物品信息的参数配置规则；判断所述状态数据是否符合所述参数配置规则；当所述状态数据不符合所述参数配置规则时，向所述测试机发送停机指令和报警指令。本申请实现了及时发现测试机的异常，提高测试结果的准确性。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112964974 A (43)申请公布日 2021.06.15 (21)申请号 202110288480.6 (22)申请日 2021.03.18 (71)申请人 嘉盛半导体（苏州）有限公司

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