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电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法.pdfVIP

电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法.pdf

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    本发明公开一种电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法，其中该电磁特性测量装置包括导磁结构、线圈以及散射参数测量器。导磁结构包括面向待测样品的第一侧以及相对于所述第一侧的第二侧，其中所述第一侧具有磁隙。线圈环绕所述导磁结构，以与所述导磁结构产生磁场。散射参数测量器设置于所述第一侧并位于所述磁场的范围内。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113008939 A (43)申请公布日 2021.06.22 (21)申请号 202011505966.2 (22)申请日 2020.12.18 (30)优先权数据 62/949,45

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