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测试用例生成方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

测试用例生成方法、装置、设备及存储介质.pdf

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    本发明公开了一种测试用例生成方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取预设的用例集合中的每个测试用例；将所述每个测试用例所包含的测试参数的取值输入至已训练完成的用例失败预测模型中，以获得所述每个测试用例的失败预测概率；以及基于所述每个测试用例的失败预测概率生成目标测试用例集合。本发明通过计算物理层特性参数的失败预测概率，选择失败预测概率相对高的物理层特性参数生成用于物理层软件测试的用例，以提升用例有效性并且兼顾覆盖率。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112988606 B (45)授权公告日 2021.07.23 (21)申请号 202110511428.2 CN 101908020 A,2010.12.08 (22)

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