一种阵列基板的测试装置及其测试方法.pdfVIP

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2023-06-11 发布于四川
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一种阵列基板的测试装置及其测试方法.pdf

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本发明提供了一种阵列基板的测试装置及其测试方法，该测试装置的测试垫位于同一测试区中的两排阵列基板的相背两侧，且与阵列基板对应且电性连接，检测模块包括液晶层和位于液晶层上的光电传感器，液晶层用于测试阵列基板的电场，光电传感器用于采集和评估液晶层出射光线的强度；本发明中的同一测试区内的两排阵列基板之间没有设置测试垫，避免测试垫与光学检测模块的信号容易发生干涉的现象，对同一测试区内的所有测试垫同时通入驱动信号，一次性检测两排阵列基板的电场和出射光线的强度，能大幅改善中小尺寸阵列基板的测试时间，能节省移

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112987352 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202110231180.4 (22)申请日 2021.03.02 (71)申请人深圳市华星光电半导体显示技术有

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