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刷新测试电路及方法.pdfVIP

刷新测试电路及方法.pdf

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    本发明提供一种刷新测试电路及方法。刷新测试电路包括内部时钟产生器、计数器以及地址检测电路。内部时钟产生器传送控制时钟信号至刷新控制器，以产生用于刷新动作的存储库选择信号以及行地址信号。计数器对存储库选择信号的变动进行计数，以产生计数值。地址检测电路检测在刷新动作中行地址信号的值是否依序增加，以产生检测信号。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112992254 A (43)申请公布日 2021.06.18 (21)申请号 202011260719.0 (22)申请日 2020.11.12 (30)优先权数据 16/719,93

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