硅棒杂质点位置判定方法.pdfVIP

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本发明提供了一种硅棒杂质点位置判定方法,主要包括以下步骤:S1、提供红外探伤仪和硅棒,按照红外探伤仪的扫描顺序,对硅棒的四个侧面进行扫描,形成四幅扫描图;S2、利用红外探伤仪对每张扫描图进行杂质辨认,并记录下每个杂质点在对应扫描图中的X、Y坐标值;S3、根据扫描图中杂质点的清晰程度,选择任意相邻的两张杂质点清晰度高的图,列举出每张图中每个杂质点的X坐标值,并将每张图中杂质点的X坐标值单独成列,形成两列数据;S4、选定两列数据中的所有数据,使生成散点图,根据该散点图中杂质点的分布区域判定出硅棒的杂

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113030181 A (43)申请公布日 2021.06.25 (21)申请号 201911344522.2 (22)申请日 2019.12.24 (71)申请人 阿特斯光伏电力(洛阳)有限公司

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