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本发明公开一种低时延的试验仪器测控系统结构,其包括MCU处理器、与所述MCU处理器连接若干功能模块,各所述功能模块中包括若干依据功能说明划分的外设器件;每一功能模块均通过CPLD可编程门阵列芯片编程驱动;各所述CPLD可编程门阵列芯片再以并行总线的方式与所述MCU处理器进行交互。本申请的低时延的试验仪器测控系统结构可解决在试验仪器领域高性能处理器与低性能、多样性的外设单元之间通讯瓶颈问题,从而实现系统低时延的,解决了本行业对控制系统要求高实时性的问题。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113032324 A
(43)申请公布日
2021.06.25
(21)申请号 20201
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