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本发明涉及到芯片测试领域,尤其涉及一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统。方法具体包括:步骤S1,设置衰减链路;步骤S2,根据链路衰减预算调节衰减链路;步骤S3,待测芯片通过调节后的衰减链路将第一射频信号发射至标准芯片;步骤S4,标准芯片根据第一射频信号,生成第二射频信号并通过衰减链路反馈至待测芯片;步骤S5,根据第一射频信号、第二射频信号和链路衰减预算获取待测芯片的射频指标测试结果。本发明的技术方案有益效果在于:提供一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统,通过待测芯片与标准芯片之间的通
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113037401 B
(45)授权公告日 2023.03.28
(21)申请号 202110271793.0 (56)对比文件
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